紧缩场
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- 产品描述
- 技术特点
- 规格参数
1、紧缩场系统组成及性能指标
紧缩场天线测量系统由微波屏蔽暗室、紧缩场天线系统、馈源系统、馈源转台系统、天线测试转台（支架）系统、微波信号源、微波测量接收机（频谱仪或矢量网络分析仪）、数据采集系统、数据处理及显示输出设备等组成，其原理框图见图1。
图1 紧缩场测试系统
图2 暗室布局侧视图
图3 紧缩场天线侧视图
紧缩场系统典型技术指标如下：
a.工作频率范围：1~40GHz。
b.极化方式：水平极化、垂直极化。
c.静区典型技术性能:
l 幅度锥削：＜1dB；
l 幅度起伏：＜±0.5dB；
l 相位波动：＜10°（1～18GHz），＜20°（18～40GHz）；
l 交叉极化：＜- 45dB。
静区性能典型曲线。
图4 D2015紧缩场静区的幅相分布
（极化VV， 频率15GHz，水平线RL）
3、紧缩场产品
紧缩场产品为航空、航天、兵器、电子和海军等多家科研单位的RCS测量、天线测量提供了重要的测试手段，在多种型号研制中发挥了重要作用。特别是2012年建成的静区尺寸15m×8m的D2120超大型紧缩场，是目前世界上最大的紧缩场，各项指标处于世界领先水平。
表1 在国内建成的紧缩场产品
|
序号 |
型号 |
静区(米) |
频率(GHz) |
时间 |
反射面类型 |
|
1 |
C2050 |
5 |
0.5～40 |
2000 |
双柱面 |
|
2 |
D2040 |
4 |
1～40 |
2003 |
单反射面 |
|
3 |
D2020 |
2 |
2～110 |
2004 |
单反射面 |
|
4 |
C2015 |
1.5 |
4～110 |
2005 |
双柱面 |
|
5 |
C2008 |
0.8 |
8～40 |
2005 |
补偿式 |
|
6 |
D2025 |
2.5 |
2~300 |
2005 |
单反射面 |
|
7 |
D2012 |
1.2 |
8～40 |
2006 |
单柱面 |
|
8 |
D2010 |
1 |
3～40 |
2008 |
单反射面 |
|
9 |
D2003 |
0.3 |
8～18 |
2009 |
单反射面 |
|
10 |
D2060 |
6 |
0.5～66 |
2009 |
单反射面 |
|
11 |
D2025 |
2.5 |
2～40 |
2010 |
单反射面 |
|
12 |
D2015 |
1.5 |
8~40 |
2010 |
单反射面 |
|
13 |
D2020 |
2 |
1～40 |
2011 |
单反射面 |
|
14 |
D2060M |
6 |
0.5～66 |
2012 |
单反射面 |
|
15 |
D2120 |
12 |
0.5～40 |
2012 |
单反射面 |
|
16 |
D2055 |
5.5 |
0.5～40 |
2013 |
单反射面 |
